反向设计的三栽数据测量技术及其特点

原标题:反向设计的三栽数据测量技术及其特点

技术和中央是相辅相成的。只要是安详成熟的编制都是在中央技术的撑持下有余整相符辅助单元,使其综相符成为一个编制终端,针对义务,优化分析并给予最优解决方案。反向工程以数据为对象,以数学手段为工具,结相符先辈柔件技术,按照项现在特点,挑取特征,反推数学模型,并首先完善反向反求。反向设计是一个复杂的编制工程,涉及的学科广而深,其关键技术荟萃表现在数据测量、数据处理、弯面重构3各方面。接下来至诚工业就来说说反向设计的三栽数据测量技术及其特点。

数据测量技术

数据测量,即借助工具获取参数。反向工程中数据测量是指,行使测量设备获取样件外貌轮廓新闻。测量技术中的测量设备分成二维和三维两类。二维测量设备基于成像技术,比如数码照相机、数字视频照相机和桌面扫描设备等。三维测量设备能够测量和挑供被测量物体的三维深度新闻而更正当于几何反向反求。数据测量手段重要分为接触式测量手段和非接触式测量手段。

接触式数据测量手段

接触式测量是指行使接触式测量设备对实物外外貌进走测量。如三坐标测量仪(CMM),它是行使传感器实现测量头在工件上的迅速移动,从而迅速记录下路径点的坐标值,具有较高精度,但这栽手段测量速度较慢,而且对侧头不克触及的外貌是无法测量的,不易获得不息的坐标点,对柔质原料如泡沫、橡胶、黏土等,关于我们体面性差。

接触式数据测量手段包括行使基于力的击发原理的触发式数据测量和扫描仪数据测量。前者采集速度较矮,清淡只适于零件的外貌形状检测,或必要数据较少的外貌数字化的场相符;后者速度较快,因而可用于采集较大周围的数据。

触发式数据测量手段

触发式数据测量手段采用触发探头,触发探头又称为开关测头,当测头的探针接触到产品的外貌时,原由探针受力变形触发采样开关,始末数据测量编制记下探针的现在坐标值,逐点移动探针就能够获得产品的外貌轮廓的坐标数据。常用的接触式触发探头重要包括:死板式触发探头、答变片式触发探头、压电陶瓷触发探头。

触发式探头可适用于空间箱体类工件及已知产品外貌的测量,原由其体积较幼,易于在褊狭的空间内操作行使。且在测量数据点过程中,测量机处于匀速直线矮速状态,于是,测量机的动态性能对测量精度的影响较幼。但原由侧头的节制,被测零件的一些细节之处不能够完善测量,且不适用于一些易碎、易变形零件的测量。另外接触式测量的测头与零件外貌接触,测量速度慢,测量后还要进走测头赔偿,数据量幼,不克实在响答实体的形状。


posted @ posted @ 20-07-04 10:36  admin  阅读量:

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